USA energeetikaministeerium (DOE) avaldas hiljuti oma kolmanda töökindlusaruande LED-draiverite kohta, mis põhinevad pikaajalisel kiirendatud kasutusiga testimisel.USA energeetikaministeeriumi pooljuhtvalgustuse (SSL) teadlased usuvad, et viimased tulemused kinnitavad kiirendatud rõhutesti (AST) meetodi suurepärast jõudlust erinevates karmides tingimustes.Lisaks võivad testitulemused ja mõõdetud tõrketegurid teavitada juhi arendajaid asjakohastest strateegiatest töökindluse edasiseks parandamiseks.

Nagu teada, LED-draiverid, naguLED komponendid ise, on optimaalse valguskvaliteedi jaoks üliolulised.Sobiv draiveri disain võib kõrvaldada virvenduse ja pakkuda ühtlast valgustust.Ja draiver on ka kõige tõenäolisem komponentLED tuledvõi valgustusseadmete talitlushäireid.Pärast draiverite tähtsuse mõistmist alustas DOE 2017. aastal pikaajalist draiverite testimise projekti. See projekt hõlmab ühe kanaliga ja mitme kanaliga draivereid, mida saab kasutada seadmete, näiteks laesoonte, kinnitamiseks.

USA energeetikaministeerium on varem avaldanud kaks aruannet testimisprotsessi ja edenemise kohta ning nüüd on see kolmas katseandmete aruanne, mis hõlmab AST-tingimustes 6000–7500 tundi kestnud toodete testimise tulemusi.

Tegelikult pole tööstusel nii palju aega tavalistes töökeskkondades paljude aastate jooksul katsetada.Vastupidi, USA energeetikaministeerium ja selle töövõtja RTI International on katsetanud ajamit keskkonnas, mida nad nimetavad 7575 – nii siseruumide niiskust kui ka temperatuuri hoitakse pidevalt 75 °C juures. See test hõlmab juhi testimise kahte etappi, sõltumata kanalit.Üheastmeline disain maksab vähem, kuid sellel puudub eraldi vooluahel, mis muundab esmalt vahelduvvoolu alalisvooluks ja seejärel reguleerib voolu, mis on unikaalne kaheastmelisele konstruktsioonile.

USA energeetikaministeerium teatas, et 11 erineva draiviga läbi viidud testides kasutati kõiki draive 7575 keskkonnas 1000 tundi.Kui ajam asub keskkonnaruumis, asub ajamiga ühendatud LED-koormus väliskeskkonna tingimustes, seega mõjutab AST keskkond ainult ajamit.DOE ei seostanud tööaega AST tingimustes tööajaga tavakeskkonnas.Esimene seadmete partii ebaõnnestus pärast 1250 töötundi, kuigi mõned seadmed on endiselt töös.Pärast 4800 tundi kestnud testimist ebaõnnestus 64% seadmetest.Sellegipoolest on need tulemused karmi testimiskeskkonda arvestades juba väga head.

Teadlased on leidnud, et enamik tõrkeid ilmnevad juhi esimeses etapis, eriti võimsusteguri korrigeerimise (PFC) ja elektromagnetiliste häirete (EMI) summutusahelates.Draiveri mõlemas etapis on ka MOSFET-idel vigu.Lisaks selliste valdkondade nagu PFC ja MOSFET täpsustamisele, mis võivad draiveri disaini parandada, näitab see AST ka seda, et tõrkeid saab tavaliselt ennustada juhi jõudluse jälgimise põhjal.Näiteks võib võimsusteguri ja liigvoolu jälgimine varakult tuvastada rikkeid.Vilkumise suurenemine viitab ka sellele, et peagi on ilmnemas rike.

Pikka aega on DOE SSL-programm SSL-i valdkonnas olulisi katsetusi ja uuringuid läbi viinud, sealhulgas Gateway'is.